WEBINAR «AVANCES EN MICROSCOPÍA PARA LA INDUSTRIA DE SEMICONDUCTORES: SOLUCIONES DE ZEISS»

Desde AESEMI te invitamos a nuestro próximo webinar organizado junto a ZEISS, que tendrá lugar el próximo martes 10 de marzo a las 16:00, en el que abordaremos un tema de gran relevancia para el sector: “Avances en Microscopía para la Industria de Semiconductores: Soluciones de ZEISS”.

En la actualidad, la industria de semiconductores enfrenta desafíos cada vez más complejos que requieren soluciones innovadoras y precisas. La microscopía avanzada se ha convertido en una herramienta fundamental para la investigación, el desarrollo y el control de calidad en este campo.

Imágenes SEM de alta resolución  de paquetes 2.5D. Un primer plano de la sección transversal de un paquete 2.5D muestra la estructura de los granos y una grieta en la soldadura en un microbump de 20 µm

Durante esta sesión conoceremos las soluciones de microscopía electrónica y rayos X de ZEISS, ampliamente utilizadas en aplicaciones de metrología, control de calidad e investigación en la industria de semiconductores, así como su complementariedad con los sistemas orientados a producción. El webinar permitirá a los asistentes descubrir las capacidades tecnológicas disponibles y su impacto en entornos industriales de alta exigencia.

Reconstrucción de microscopía de rayos X en 3D resalta el puente de interconexión que conecta múltiples chips. Los bumps C4 de 75 µm y los microbumps de 30 µm son claramente visibles.

Os animamos a participar en esta sesión, que ofrecerá una visión práctica de tecnologías clave para impulsar la innovación y la competitividad en el sector.

Microtomografía de rayos X de un giróscopo obtenida en menos de 1 minuto.

Fecha: Martes, 10 de marzo de 2026
Hora: 16:00 – 17:00 (CET)
Lugar: Online